探针卡简化测试和替换流程

存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里,测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件(DUT)数量从32到64到128不断上升——减少了测试平台的数目。这样,通过在300mm晶圆上一次完成测试,而不是需要四次触底(TD)测试,提高了测试的吞吐率。

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