第10期 光谱学与光谱分析别放在X射线管全自动衍射仪高温装置中(即加热炉),抽真空,伴随炉中加热,温度逐渐升高,在25,200,400,600e各个温度点停留30min,测定铜镜在以上各温度点的物相。衍射角扫描范围25b~55b,工作电压和电流分别为40kV和40mA。XRD谱图如图5~图12

。

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Fig15 XRDspectrogramofbronzemirrorsurfacein25

e

Fig12 SurfacecharacterofT3afterheating

andevaporatingHgin200

e

Fig16 XRDspectrogramofbronzemirrorsurfacein200

e

Fig13 XRDspectrogramoftinamalgamlayerofT1

afterheatingto200

e

Fig17 XRDspectrogramofbronzemirrorsurfacein400e 从图5和图6可以看出,当加热温度低于Hg的沸点时,Hg大量富集于青铜样品表面,并没有挥发多少,铜汞化合物仍大量富集在表层;当加热温度高于Hg的沸点时(图7,

Fig14 XRDspectrogramoftinamalgamlayerofT2

afterheatingto400

e

图8),Hg已大量挥发掉,这和前面的实验结果相同;并且当加热温度达到一个更高的温度600e时,已不见含汞物相。